薄膜探針 ODM
| 薄膜探針(Membrane Probe)特性 | |
| 1 | 高速度：最高可達10GHz高頻執行良好 |
| 2 | 有利於高腳數(high pin count)之趨勢(可增加上千隻I/O數) |
| 3 | 接腳柄細微化(可在15um以下)加上述優點可增加LCD、IC執行功能 |
| 4 | 引腳多樣化，可作區域陣列接腳，有利多功能LCD或IC測試規劃 |
| 5 | 利用現成之IC/MEMS製程大量生產 (Batch Manufacturing by using already exist IC/MEMS Foundry Infrastructure)，故量產時省時間、省人力、精度高、成本低 |
| 6 | 測試接觸點(test pad)不易被刮傷 |
| 7 | 測試柄 Probe Pad 可小於20um小面積高腳數 |
| 8 | 有利LCD或IC佈局設計、降低成本、增加功能 |
| 9 | 適合Wafer、Burn In、Reliability Test (瞬間耐溫可達攝氏300度高溫，常態下可耐攝氏150度) |
